DOI: https://doi.org/10.20535/2617-0965.2019.2.1.162156

ВИМІРЮВАЛЬНИЙ СТЕНД ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ ВПЛИВУ НЕОДНОРІДНОЇ ДЕФОРМАЦІЇ НА КОМПОНЕНТИ БІПОЛЯРНИХ ІМС

Maksym Olehovych Zylevich

Анотація


У роботі спроектовано стенд для дослідження впливу неоднорідної деформації на компоненти біполярних ІМС. Даний стенд призначений для вимірювання опору кремнієвих резисторів, вольт-амперних характеристик діодів та транзисторів під дією відомої неоднорідної деформації з відображенням отриманої інформації на екран персонального комп’ютера для подальшої обробки. Стенд дозволяє регулювати тиск у широкому діапазоні та є універсальним для вимірювання електричних характеристик різних компонентів мікросхем.

Бібл. 10, рис. 3, табл. 1


Ключові слова


деформація; тиск; вольт-амперна характеристика; опір; деламінація

Повний текст:

PDF

Посилання


Hnatek E. R. "Integrated Circuit Quality and Reliability," New York, Marcel Deker., 1995. URL: http://catcut.net/qX7A

Levin M., Kala T. 1"Improving product reliability," California, Wiley., 2003. ISBN: 978-0-470-86449-4

Vorobyov D. V. "Harakteristiki ta dzherela mehanIchnih vplivIv na radIoelektronnI zasobi," Molodiy vcheniy. no. 19. pp. 182-185, 2014. URL: https://moluch.ru/archive/78/13692/

Lee Y. C."Micro- and Opto- Electronic Materials and Structures," California, Springer., 2007. URL: https://www.springer.com/us/book/9780387279749

Kochemirovskiy V. A. "Defekti kristalIchnoYi strukturi napIvprovIdnikovih materIalIv," VidavnichIy dIm SPGU., 2013. URL: goo.gl/P7pCgF

Polyakova A. L. "DeformatsIya napIvprovIdnikIv I napIvprovIdnikovih pristroyiv," Moskva, EnergIya., 1979. URL: https://www.twirpx.com/file/560929/

Brotherton S. D. "Introduction to Thin Film Transistors: Physics and Technology of TFTs," Switzerland, Springer., 2013. URL: http://haa.su/FZv/

Rudolf F. G. "Modern Dictionary of Electronics," Melborne, Newnes., 1999. URL: goo.gl/cYTqAp

Metod Kelvina [Online], Avalible:http://shemabook.ru/kelvina-4-provodnoy-izmereniya-soprotivleniya. [Accessed: 09-Feb-2019].

Widmann D. "Technology of Integrated Circuits," Berlin, Springer., 2000. URL: goo.gl/vXaxhs


Перелік посилань


  1. Hnatek E. R. "Integrated Circuit Quality and Reliability," New York, Marcel Deker., 1995. URL: http://catcut.net/qX7A
  2. Levin M., Kala T. 1"Improving product reliability," California, Wiley., 2003. ISBN: 978-0-470-86449-4
  3. Vorobyov D. V. "Harakteristiki ta dzherela mehanIchnih vplivIv na radIoelektronnI zasobi," Molodiy vcheniy.  no. 19. pp. 182-185, 2014. URL: https://moluch.ru/archive/78/13692/
  4. Lee Y. C."Micro- and Opto- Electronic Materials and Structures,"  California,  Springer., 2007. URL: https://www.springer.com/us/book/9780387279749
  5. Kochemirovskiy V. A. "Defekti kristalIchnoYi strukturi napIvprovIdnikovih materIalIv," VidavnichIy dIm SPGU., 2013. URL: goo.gl/P7pCgF
  6. Polyakova A. L. "DeformatsIya napIvprovIdnikIv I napIvprovIdnikovih pristroyiv," Moskva, EnergIya., 1979. URL: https://www.twirpx.com/file/560929/
  7. Brotherton S. D. "Introduction to Thin Film Transistors: Physics and Technology of TFTs," Switzerland, Springer., 2013. URL: http://haa.su/FZv/
  8. Rudolf F. G. "Modern Dictionary of Electronics," Melborne, Newnes., 1999. URL: goo.gl/cYTqAp
  9. Metod Kelvina [Online], Avalible:http://shemabook.ru/kelvina-4-provodnoy-izmereniya-soprotivleniya. [Accessed: 09-Feb-2019].
  10. Widmann D. "Technology of Integrated Circuits," Berlin, Springer., 2000. URL: goo.gl/vXaxhs


Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.


Copyright (c) 2019 Maxim Zylevich

Creative Commons License
Ця робота ліцензована Creative Commons Attribution 4.0 International License.